美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

新的 CHDF 3000 提供：

1】高分辨率粒度分布（PSD）測量 的新的技術(shù)，包括顆粒檢測高靈 敏度、動態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。

2】粒子分餾的真的 PSD 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。

3】精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。

4】自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。

美國MAS

應(yīng)用科學(xué)公司的新 CHDF3000 系統(tǒng)，在高分辨率粒度分布（PSD）分析方面有*新的進(jìn)展。

CHDF3000 使用毛細(xì)管流體動力分餾（CHDF）技術(shù)按大小分離顆粒。架構(gòu)于光散射儀器、主

要提供平均粒徑數(shù)據(jù)—任何平均粒徑都可由無限多的 PSD 產(chǎn)生（見下文）。相反，

CHDF3000在 5 納米到 3 微米范圍內(nèi)提供完整、真實、詳細(xì)的 PSD 數(shù)據(jù)。接下來將介紹

CHDF3000 的一些優(yōu)勢亮點。

美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

優(yōu)勢：

• 毛細(xì)流體動力分餾：詳細(xì) PSD 數(shù)據(jù)、廣泛多樣 PSD 準(zhǔn)確報告
• 寬動態(tài)范圍檢測：在主要粒子群中，對次要粒子群進(jìn)行大動態(tài)范圍檢測
• 可靠性高的和簡易操作：質(zhì)量控制/研發(fā)/在線使用
• v全面的粒度分布數(shù)據(jù)報告
• v連續(xù)監(jiān)測/控制所有測量數(shù)據(jù)：與泵、紫外線檢測器和自動采樣器串聯(lián)
• v占地面積小
• v其他

1. 自動取樣器/無人值守分析
2. 樣品量： 10%的高分辨率能力
3. 適用于非均勻成分樣品、獨立顆粒密度
4. 樣品量： < 1 ml (v)
5. 10 分鐘